2016년 5월 19일 목요일

투과전자현미경(TEM)

투과전자현미경(TEM)
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본문
투과전자현미경(TEM)은 편광한 전자선을 사용하여 시료를 투과시킨 전자선을 전자렌즈로 확대하여 관찰하는 전자현미경이다.
TEM의 구조는 그림과 같다. 전자총에서 나온 전자선은 가능한 한 밝고 시간적으로 안정하여야한다. 조사시스템은 관찰시료에 입사되는 전자선의 세기를 조절하고 전자선의 수렴반각 등을 선택하는 역할을 한다.


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